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中圖儀器（chotest）SuperView W1中圖儀器中圖儀器非接觸3d光學(xué)輪廓儀

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中圖儀器SuperViewW1非接觸輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，采用光學(xué)非接觸式測(cè)量方法，具有測(cè)量參數(shù)齊全、分析功能強(qiáng)大、使用方便、測(cè)量精度高等特點(diǎn)，并且其的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等個(gè)精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)

詳細(xì)介紹

中圖儀器SuperView W1非接觸輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器，采用光學(xué)非接觸式測(cè)量方法，具有測(cè)量參數(shù)齊全、分析功能強(qiáng)大、使用方便、測(cè)量精度高等特點(diǎn)，并且其的光源模式，保證了它能夠適用于從光滑到粗糙等個(gè)精密器件的表面質(zhì)量檢測(cè)。

場(chǎng)景一：粗糙的特征表面
整體尺寸在7mm左右的涂覆在電極棒的催化劑表面全景圖，整體的輪廓尺寸和微觀的輪廓起伏反映了涂覆的質(zhì)量。根據(jù)精度要求，可將重建算法切換為高速掃描的FVSI重建算法，并可依據(jù)表面粗糙程度，選擇不同步距進(jìn)行速度調(diào)節(jié)。

場(chǎng)景二：超光滑的弧形表面
旋轉(zhuǎn)拋物面零件表面具有超光滑、高反、凹面弧形特征，用于微小位移和角度檢測(cè)，針對(duì)其凹面弧形的檢測(cè)需求，現(xiàn)有的顯微測(cè)量?jī)x器中，原子力顯微鏡和共聚焦顯微鏡，均分別因有損測(cè)量或分辨率不夠的原因而排除，只有以白光干涉為原理的光學(xué)3D表面輪廓儀，能同時(shí)滿足無損、超高分辨率、耐高反等條件。

針對(duì)完成樣品超光滑凹面弧形掃描所需同時(shí)滿足的高精度、大掃描范圍的需求，中圖儀器SuperView W1非接觸輪廓儀的復(fù)合型EPSI重建算法，解決了傳統(tǒng)相移法PSI掃描范圍小、垂直法VSI精度低的雙重缺點(diǎn)。在自動(dòng)拼接模塊下，只需要確定起點(diǎn)和終點(diǎn)，即可自動(dòng)掃描，重建其超光滑的表面區(qū)域，不見一絲重疊縫隙。

場(chǎng)景三：粗糙的有孔洞特征平面
手機(jī)插卡槽處的金屬薄片模塊，需要測(cè)量不含凹面區(qū)域的表面輪廓和平整度，因其表面較為粗糙且了測(cè)量區(qū)域，可使用高速FVSI算法，并在拼接測(cè)量設(shè)定時(shí)，使用地圖導(dǎo)航功能，在掃描時(shí)即可自動(dòng)跳過凹面區(qū)域完成其余整體形貌的拼接測(cè)量。