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XRF9能量色散X射線熒光分析儀

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XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術(shù)與厚樣技術(shù)相結(jié)合的方式，既可以對(duì)大量樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，也可以對(duì)塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的元素分析。特別適宜于針對(duì)RoHS指令的多元素測(cè)試。

詳細(xì)介紹

XRF9能量色散X射線熒光分析儀采用薄樣技術(shù)與厚樣技術(shù)相結(jié)合的方式，既可以對(duì)大量樣品進(jìn)行無(wú)損檢測(cè)，也可以對(duì)塊狀固體，固體粉末和液體樣品等進(jìn)行實(shí)驗(yàn)室級(jí)別的元素分析。特別適宜于針對(duì)RoHS指令的多元素測(cè)試。

XRF9能量色散X射線熒光分析儀物理原理
當(dāng)材料暴露在短波長(zhǎng)X光檢查，或伽馬射線，其組成原子可能發(fā)生電離，如果原子是暴露于輻射與能源大于它的電離勢(shì)，足以驅(qū)逐內(nèi)層軌道的電子，然而這使原子的電子結(jié)構(gòu)不穩(wěn)定，在外軌道的電子會(huì)“回補(bǔ)”進(jìn)入低軌道，以遺留下來(lái)的洞。在“回補(bǔ)”的過(guò)程會(huì)釋出多余的能源，光子能量是相等兩個(gè)軌道的能量差異的。因此，物質(zhì)放射出的輻射，這是原子的能量特性。

特點(diǎn)：

· 采用多光束可調(diào)節(jié)系統(tǒng)

· 高分辨率探測(cè)器

· 采用XYZ三維運(yùn)動(dòng)樣品臺(tái)

· 大型樣品分析室

· CCD攝像及自動(dòng)定位系統(tǒng)

· 自動(dòng)調(diào)節(jié)雙層六通道濾光系統(tǒng)

主要技術(shù)指標(biāo)

分析原理能量色散X射線熒光分析法

分析元素 Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型）

Na～U(任選：φ1.2mm/φ0.1mm切換方式型）

檢出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm