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天津東方科捷科技有限公司
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ISS 快速熒光壽命成像系統(tǒng)FLIM/FCS
基于激光共焦掃描顯微系統(tǒng)--熒光成像、熒光強度掃描成像、熒光壽命掃描成像、熒光光譜掃描成像
新一代快速熒光壽命成像FastFLIM系統(tǒng),提供單分子級的靈敏度,檢測波長標準配置范圍:350-1050nm;壽命范圍100ps-100ms;用于化學、納米、能源、生物等學科方向,單分子動態(tài)、活細胞、微區(qū)成像及形貌、能級結構和能量傳遞特征的機理研究,測試速度高達5fps(512×512),1×1 到 4096×4096成像,采用可視化Phasor plots熒光壽命直讀半圓規(guī),批量熒光壽命成像數據處理進入直讀時代;振鏡掃描適于所有時間尺度的壽命成像。活細胞工作站、變溫測試可選用;
主要功能描述:
激光共焦熒光強度成像LCM;
熒光壽命成像FLIM,磷光壽命成像PLIM;
上轉換熒光(壽命)成像,稀土發(fā)光(壽命)成像,延遲熒光(壽命)成像;
熒光波動成像FFS(FCS,FCCS, PCH,N&B, RICS, FLCS),FLIM-FRET成像;
單量子點發(fā)光(壽命)成像,單分子及單分子熒光共振轉移成像,包括交替激發(fā)PIE成像;
穩(wěn)態(tài)及瞬態(tài)偏振成像;
微區(qū)熒光光譜采集及光譜成像;
反聚束測試;
Prof. Joseph R. Lakowicz 實驗室選擇的FLIM系統(tǒng)
數字頻域技術DFD-FLIM (FastFLIM)和時域技術TD-FLIM (TCSPC)成像技術;
實時直讀式獲得熒光壽命數值及變化趨勢,FRET效率分布;
選擇300-1600nm波長范圍檢測器,2-4通道檢測器,用于成像,FLIM-FRET;
可以升級無波長干擾AFM,實現同區(qū)域形貌和FLIM同步測試;
紫外-可見-紅外激發(fā)波長,單波長或超連續(xù)激光器;266nm-1300nm激光器可選;PIE功能可選;白光激光器可選用;
單光子或雙光子的激光器;
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