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北京天浦正達電子科技有限公司
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更新時間：2023-09-03 19:07:55瀏覽次數(shù)：182次
聯(lián)系我時，請告知來自 環(huán)保在線J.A.Woollam光譜型橢偏儀電源維修M-2000XIM-2000系列光譜橢圓儀是為滿足薄膜表征的需求而設計的
J.A.Woollam光譜型橢偏儀電源維修M-2000XI
M-2000系列光譜橢圓儀是為滿足薄膜表征的需求而設計的。RCE技術結合了旋轉補償器橢圓儀和CCD檢測，在幾分之一秒內收集整個光譜（數(shù)百個波長），并有多種配置。擅長于從原位監(jiān)測和過程控制到大面積均勻性繪圖和通用薄膜表征的橢偏儀。光譜檢測RCE設計與CCD檢測兼容，可同時測量波長。光譜范圍采集從紫外線到近紅外的700多個波長同時采集。 適合直接連接到您的工藝室或配置在我們的桌面底座上，進行準確的橢圓測量。
美國J.A.Woollam光譜橢圓儀電源維修；M-2000旋轉補償橢偏儀高壓發(fā)生器維修。
應用范圍材料：半導體、電介質、聚合物、金屬、多層等。
可選光譜范圍：
V型 370－1000nm
U型 245－1000nm
D型 193－1000nm
紅外擴展 1000－1700nm
可選變角：手動連續(xù)可變；自動連續(xù)可變
微光斑選件：25×60微米
光譜型橢偏儀維修類型如下：
1、M-2000 光譜型橢偏儀
無論是科研還是工業(yè)生產，M-2000都可以滿足您的需求，多樣的配置選項滿足不同用戶的要求。旋轉補償技術確定Delta的準確測量，CCD列陣的使用使全光譜掃描可在幾秒中內完成。
2、Alpha-SE 光譜型橢偏儀
α-SE是一款高性價比的光譜型橢偏儀。簡約設計，理想的薄膜分析工具。計算機通過通訊口控制儀器、數(shù)據(jù)采集。配置易用的數(shù)據(jù)分析軟件，易于使用，帶有選項的按鈕式操作軟件技術，基于旋轉補償技術，十秒內完成180個波長的測量及數(shù)據(jù)的擬合 功能強 提供厚度、光學常數(shù)、表面粗糙、界面層等數(shù)據(jù)應用范圍，適用于可見光譜段薄膜的研究及日常工藝控制。
3、V-VASE 光譜型橢偏儀
V-VASE是一款自動可變角，單色儀分光的光譜橢偏儀?？蓱糜诎雽w、電介質、聚合物、金屬、等薄膜的研究和分析。自動相位延遲技術做到了測量準確性，測試重復性。具有靈活多變測試功能的V-VASE可用于研究中。
3、IR-VASE 光譜型橢偏儀
IR-VASE可應用于紅外材料光學特性的測量及分析，IR-VASE在半導體上可應用于摻雜濃度的測量。超寬光譜適合多種紅外材料，旋轉補償技術做到了測試數(shù)據(jù)的準確性。IR-VASE是紅外橢偏儀中的產品。
5、VUV-VASE 光譜型橢偏儀
UVV-VASE是一款真空紫外橢偏儀，通常用來測量及研究薄膜的紫外光學特性，如光刻膠等。
6、T-solar 光譜型橢偏儀
T-Solar是為光伏行業(yè)量身定制的一款光譜橢偏儀，無論是硅電池（絨面）還是薄膜電池，都可以用T-Solar來測量。
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