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DKR-NSI 無(wú)損密封性測(cè)試儀

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更新時(shí)間：2024-01-28 15:23:00瀏覽次數(shù)：199次

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

產(chǎn)品介紹DKR-NSI無(wú)損密封性測(cè)試儀符合ASTM測(cè)試方法，高精度，雙循環(huán)原理，配置微型流量計(jì)，無(wú)菌藥品密封性測(cè)試儀替代無(wú)菌檢查和色水法

詳細(xì)介紹

產(chǎn)品介紹

DKR-NSI無(wú)損密封性測(cè)試儀符合ASTM測(cè)試方法，高精度，雙循環(huán)原理，配置微型流量計(jì)，無(wú)菌藥品密封性測(cè)試儀替代無(wú)菌檢查和色水法。

采用的真空衰減法符合ASTM測(cè)試方法和FDA標(biāo)準(zhǔn)，適用于微量泄漏檢測(cè)、密閉容器完整性檢漏，是一臺(tái)為空/滿的注射器、有液體/凍干的小瓶以及其他含有液體的包裝（無(wú)論柔軟還是堅(jiān)硬的）提供高精度無(wú)損檢測(cè)的系統(tǒng)。測(cè)試上述類(lèi)型的產(chǎn)品要求很高的靈敏度、可重復(fù)性和準(zhǔn)確性。

產(chǎn)品特點(diǎn)

DKR-NSI 無(wú)損密封性測(cè)試儀連接到一個(gè)特別設(shè)計(jì)用來(lái)容納需要被測(cè)試的包裝的測(cè)試腔，包裝被置于要被抽真空的測(cè)試腔內(nèi)，雙傳感器技術(shù)不僅用來(lái)監(jiān)測(cè)真空度同樣也監(jiān)測(cè)預(yù)定測(cè)試時(shí)間段中的真空變化。優(yōu)良真空和真空差壓的變化暗示了當(dāng)前包裝中存在泄漏和缺陷。一項(xiàng)測(cè)試的靈敏度取決于傳感器的靈敏度、包裝的形式、包裝測(cè)試時(shí)的夾具以及測(cè)試中的關(guān)鍵參數(shù)：時(shí)間和壓力。測(cè)試系統(tǒng)可以設(shè)置人工或自動(dòng)操作。這種檢測(cè)方式適合實(shí)驗(yàn)室離線操作和質(zhì)保 / 質(zhì)檢部門(mén)數(shù)據(jù)過(guò)程控制。

整個(gè)過(guò)程僅僅用時(shí)幾秒鐘，測(cè)試結(jié)果非常客觀，而且測(cè)試對(duì)產(chǎn)品和包裝是無(wú)損的。