會(huì)員1.png)
高低溫試驗(yàn)箱 AT-300C
高低溫試驗(yàn)箱，又稱高低溫試驗(yàn)機(jī)、高低溫實(shí)驗(yàn)箱、高低溫交變?cè)囼?yàn)箱、高低溫箱，適用于對(duì)電工、電子及其他產(chǎn)品、零部件及材料進(jìn)行高溫或低溫試驗(yàn)，以及高低溫循環(huán)試驗(yàn)的環(huán)境試驗(yàn)箱設(shè)備，星拓高低溫試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)符合GB國(guó)標(biāo)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件》。
產(chǎn)品介紹
試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)及方法
1）GB/T 10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件；
2）GB/T 2423.1-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；
3）GB/T 2423.2-2008 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；
4）GB/T 2423.22-2012 環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；
5）GJB 150.3-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部分 高溫試驗(yàn)；
6）GJB/T 150.4-86 設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 第4部分 低溫試驗(yàn)；
注：支持非標(biāo)定制
