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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD

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更新時間：2021-11-17 11:03:37瀏覽次數(shù)：320次

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菲希爾測試儀器(中國)有限公司

經(jīng)營模式：其他

商鋪產(chǎn)品：43條

所在地區(qū)：福建廈門市

聯(lián)系人：葉先生（銷售）

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產(chǎn)品簡介

特點通用X射線熒光分析儀，用于根據(jù)ISO3497和ASTMB568標(biāo)準(zhǔn)自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細(xì)材料分析使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD50mm2）6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測量條件分析輕元素，例如鋁，硅和磷樣品高度高達(dá)14厘米高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5µm，用于小型結(jié)構(gòu)的自動測量

詳細(xì)介紹

特點

通用X射線熒光分析儀，用于根據(jù)ISO 3497和ASTM B 568標(biāo)準(zhǔn)自動測量超薄鍍層（0.05μm）百萬分之一以下的精細(xì)材料分析
使用Fischer公司超大有效面積的硅漂移探測器（SDD 50 mm2）
6種可切換基本濾片和4種可切換準(zhǔn)直器優(yōu)化測量條件
分析輕元素，例如鋁，硅和磷
樣品高度高達(dá)14厘米
高精度，可編程XY工作臺，定位精度為5 µm，用于小型結(jié)構(gòu)的自動測量；
結(jié)構(gòu)堅固，可進(jìn)行連續(xù)測試，具有的長期穩(wěn)定性
經(jīng)過認(rèn)證的全面防護(hù)裝置

應(yīng)用

測試電子和半導(dǎo)體工業(yè)中的極薄涂層，例如厚度小于50nm的金和鈀層；
在汽車制造業(yè)中測量硬質(zhì)材料涂層
在光伏行業(yè)中測量鍍層厚度
根據(jù)RoHS、WEEE、CPSIA和其他指令（電子，包裝和消費品）對有害物質(zhì)如鉛和鎘進(jìn)行痕量分析
黃金，其他貴金屬和合金的分析和真實性測試
直接測定功能性NiP涂層中磷的含量

型

XDV®-SDD是Fischer產(chǎn)品組合中功能大的X射線熒光分析儀之一。該XRF光譜儀配備了特別靈敏的硅漂移檢測器（SDD）。這使您能夠無損地測量的鍍層，例如引線框架上約2nm厚的金涂層。

同時，XDV-SDD非常適合無損分析材料。例如，它對塑料中痕量鉛的檢測靈敏度約為2 ppm，比RoHS或CPSIA要求的值低幾個數(shù)量級。

為了使您可以為每次測量創(chuàng)建理想的條件，XDV-SDD具有可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片，這樣就可以科學(xué)地進(jìn)行工作。此外，這種耐用的設(shè)備易于操作，而且是專為工業(yè)用途的系列測試而設(shè)計。自動擴(kuò)展的測量平臺和測量現(xiàn)場的實時圖像等功能使您的日常工作更加輕松。