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更新時(shí)間:2021-11-17 11:38:49瀏覽次數(shù):197次
聯(lián)系我時(shí),請告知來自 環(huán)保在線特性高精度測量多層金屬鍍層的厚度(庫侖法)根據(jù)DINENISO2177進(jìn)行測量通過彩色顯示屏和圖形支持的用戶指南直觀地操作可輕松選擇電解速度(0.1-50微米/分鐘)和電解面積(0.6-3.2mm)針對不同鍍層系統(tǒng)(如鐵上鍍鋅或黃銅上鍍鎳)預(yù)先設(shè)定了近100種測量應(yīng)用測量單元上電壓曲線的圖形顯示圖形和統(tǒng)計(jì)評估帶支撐架的部分自動化測量
COULOSCOPE CMS2 STEP的附加功能
COULOSCOPE CMS2 STEP的額外應(yīng)用
在一定的厚度以上,X射線熒光對鍍層的無損測量達(dá)到了極限,這就是COULOSCOPE®CMS2發(fā)揮作用的地方。它用庫侖法測量多種金屬鍍層的厚度,這是做相當(dāng)簡單的退鍍處理。COULOSCOPE CMS2可以準(zhǔn)確地測量許多常見的單層和多層鍍層。
庫侖法的成本效益高,可精確地替代X射線熒光法-前提是你可以接受一種破壞性的測量方法。它為您提供了的靈活性,因?yàn)樗梢杂糜趶V泛的鍍層組合。您可以使用庫侖法測量鍍層厚度,特別是在電鍍鍍層的質(zhì)量控制中,以及用于監(jiān)測印刷電路板上的殘余純錫厚度。
如果你想在使用庫侖法測量鍍層厚度的同時(shí)測量電化學(xué)電勢,那么COULOSCOPE CMS2 STEP就是你的選擇。STEP測試方法可以同時(shí)測量多層鎳鍍層的電位差和鍍層厚度,非常適合測定這些鍍層的腐蝕行為。
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