廠 商:日本電子株式會社
型 號:JEM-2100F(特制)
到貨日期:2013-3-5
主要儀器參數(shù):
● 電子光源:200KV 場發(fā)射
● 極限分辨率:0.45 nm
● 磁場范圍:水平方向:-600~600 Oe
● 溫度范圍:室溫
主要用途:
JEOL-2100F洛倫茲透射電子顯微鏡以其的物鏡設(shè)計可以使樣品區(qū)域電鏡產(chǎn)生的磁場小于10 Oe,同時保持0.45 nm的晶格分辨率,從而實現(xiàn)對剩磁狀態(tài)下的磁性材料內(nèi)部磁結(jié)構(gòu)表征。適用于薄膜、塊體、粉末等多種形態(tài)樣品。主要用途如下:
1.普通形貌、選區(qū)電子衍射。
2.利用加磁場樣品臺可對樣品水平方向施加磁場,原位觀測加場過程的磁結(jié)構(gòu)變化。
3.本電鏡還配有電子雙棱鏡附件可同時分析磁性材料的磁疇結(jié)構(gòu)和樣品內(nèi)部磁場電場分布。