生產(chǎn)廠商:美國Thermo Sicentifc
型號:Verios G4 UC
投用時間:2018年9月
主要功能:
掃描電子顯微鏡依據(jù)電子與物質(zhì)的相互作用,利用聚焦的高能電子束在試樣上掃描,激發(fā)出各種物理信息。通過對這些信息的接受、放大和顯示成像,獲得測試試樣表面形貌。如納米材料、材料斷口、試樣原始表面、試樣厚度等。同時可以配備能譜儀等附件,在觀察樣品形貌的同時進(jìn)行成分和元素分析,以及通過電子背散射衍射技術(shù)分析確定晶體結(jié)構(gòu)、取向及相關(guān)信息。
主要附件:
- Oxford Extreme 無窗能譜
- Oxford X-Max 50能譜
- Oxford Symmetry EBSD
主要指標(biāo):
- 15-2 KV 06 nm
- 1 KV 0.7 nm
- 500 V 1.0 nm
- 200 V 1.2 nm