儀器廠商:德國布魯克公司/Bruker AXS
型號:D8 Discover
到貨日期:2007年6月
技術(shù)指標(biāo):
Cu靶X光管電壓≤50kV、電流≤40mA
測角儀工作方式:θ/2θ方式
掃描范圍:- 3°~150°
5軸尤拉環(huán)樣品臺的測試范圍:
K軸:-10°到91° F軸:±360° X軸:-50mm到+50mm
Y軸:-50mm到+50mm
Z軸:-1.5mm到+2mm
測角儀精度:0.0001°、準(zhǔn)確度≤0.02°
功能特點:
高分辨X射線衍射儀配有Gobel 反射鏡和雙晶單色器,可獲得近平行的入射X射線,可以對單晶、薄膜及納米材料等進行精細的X射線衍射分析。
主要用途:
單晶及單晶外延膜分析、搖擺曲線的測定及φ掃描、三軸晶衍射測量(即倒易空間等強度分布圖測量,Mapping)、薄膜的物相分析、厚度及粗糙度測量、小角散射測試。